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Patente europea E02027674(7) - Simultaneous self-calibrated sub-aperture stitching for surface figure measurement ( interferometer )

Nº Solicitud:

E02027674

Fecha presentación:

12/12/2002

Nº prioridad:

US 341549 P

Fecha prioridad:

18/12/2001

Nº publicación OEP:

EP1324006

Fecha publicación:

02/07/2003

Fecha publicación concesión:

29/03/2006

Título:

Simultaneous self-calibrated sub-aperture stitching for surface figure measurement ( interferometer )

Estado:

Patente no validada

Última actualización de la base de datos:

10/07/2006

Solicitante / Titular:

Nombre:
QED TECHNOLOGIES INTERNATIONAL, INC. (100,00%)
Dirección:
870 N. COMMONS DRIVE
Localidad:
AURORA, IL 60504
País de residencia:
US ESTADOS UNIDOS DE AMERICA

Inventor/es:

  1. GOLINI, DONALD
  2. FORBES, GREGORY
  3. MURPHY, PAUL E.

Agente/Representante:

sin representación

Reivindicación de prioridad:

PaísFechaNº prioridad
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA18/12/2001341549 P
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA25/11/2002303236

Clasificaciones:

Clasificación CIP7 o anteriores:
G 01B 11/255 , G 06T 11/00, G 02B 7/00, G 01M 11/00

Publicación:

Nº PublicaciónPaís de publicaciónFecha publicaciónTipo documento
EP1324006 EP02/07/2003A3 Informe de búsqueda en la OEP
 

Tramitado según Ley 11/1986

Actos de tramitación:

FechaActo de tramitación
02/07/2003 ANUNCIO REALIZACION S.R.
02/07/2003 IDIOMA DE PROCEDIMIENTO INGLES
02/07/2003 PUBLICACION SOLICITUD O.E.P.
29/03/2006 PUBLICADA CONCESION O.E.P.
10/07/2006 NO PRESENTADA LA TRADUCCION